一、頻率誤差測(cè)試

定義：

      頻率誤差指設(shè)備正常工作模式下的測(cè)量頻率點(diǎn)（f）與頻率漂移幅度最大的頻率點(diǎn)（fe）的偏差程度，計(jì)算公式為：frequency error = (f - fe)/f × 10? ppm核心目的是驗(yàn)證設(shè)備載波頻率的精準(zhǔn)度，避免因頻率偏移導(dǎo)致的通信失步。

測(cè)試規(guī)范

1. 1.測(cè)試準(zhǔn)備：將發(fā)射機(jī)設(shè)置為非調(diào)制載波發(fā)射模式，排除調(diào)制信號(hào)對(duì)頻率測(cè)量的干擾；
2. 2.測(cè)量記錄：通過(guò)高精度頻率計(jì)，在常溫、額定電壓等標(biāo)準(zhǔn)條件及極限工作條件下，逐一測(cè)量各預(yù)設(shè)頻率點(diǎn)的實(shí)際值并記錄；
3. 3.結(jié)果判定：標(biāo)準(zhǔn)要求頻率誤差絕對(duì)值不得超過(guò) ±10 ppm，確保設(shè)備與讀寫(xiě)器的頻率匹配性。

二、低壓狀態(tài)下的頻率穩(wěn)定度測(cè)試

定義：

     針對(duì)電池供電類 RFID 產(chǎn)品，評(píng)估其在極限低電壓供電場(chǎng)景下的持續(xù)工作能力與頻率穩(wěn)定性，核心驗(yàn)證供電電壓衰減時(shí)設(shè)備的抗干擾性能。

測(cè)試步驟

1. 1.設(shè)備配置：發(fā)射機(jī)以非調(diào)制載波持續(xù)發(fā)射，精準(zhǔn)連接頻率計(jì)與供電電源，確保信號(hào)傳輸無(wú)損耗；
2. 2.基準(zhǔn)記錄：記錄標(biāo)準(zhǔn)電壓、極限低電壓等不同供電條件下的發(fā)射頻率值，建立對(duì)比基準(zhǔn)；
3. 3.電壓衰減測(cè)試：從制造商宣告的極限低壓開(kāi)始逐步下調(diào)供電電壓，直至電壓為 0，全程實(shí)時(shí)記錄發(fā)射頻率的波動(dòng)情況；
4. 臨界點(diǎn)記錄：標(biāo)記設(shè)備停止發(fā)射信號(hào)時(shí)的電壓節(jié)點(diǎn)，作為供電穩(wěn)定性的關(guān)鍵指標(biāo)。

技術(shù)要求：

1. 1.低電壓工況下，發(fā)射頻率誤差需維持在 ±10 ppm 以內(nèi)，且發(fā)射功率需符合雜散輻射限制要求；
2. 2.設(shè)備停止發(fā)射的電壓節(jié)點(diǎn)必須低于制造商宣稱的最低工作電壓，確保產(chǎn)品實(shí)際供電冗余滿足使用需求。

三、發(fā)射功率 ERP 測(cè)試

定義：

     等效全向輻射功率（ERP）測(cè)試是評(píng)估 RFID 設(shè)備信號(hào)覆蓋能力的核心項(xiàng)目，測(cè)試方式分為輻射測(cè)試與傳導(dǎo)測(cè)試，實(shí)驗(yàn)室場(chǎng)景中因模擬實(shí)際使用環(huán)境更常用輻射方式。

技術(shù)要求

1.根據(jù) ERP 功率等級(jí)差異化設(shè)定射束帶寬限制，確保頻段資源合理利用：

1. 2.ERP≤500 mW：射束帶寬無(wú)強(qiáng)制限制；
2. 3.500 mW＜ERP≤1000 mW：射束帶寬不得超過(guò) 180°；
3. 4.1000 mW＜ERP≤2000 mW：射束帶寬嚴(yán)格限制在 90° 以內(nèi)。

四、發(fā)射頻譜測(cè)試

定義：

     驗(yàn)證發(fā)射機(jī)在正常調(diào)制模式下，載波 ±500 kHz 范圍內(nèi)的平均功率是否符合限值要求，核心目的是抑制頻譜泄露，避免對(duì)相鄰信道造成干擾。

測(cè)試步驟

1. 1.設(shè)備調(diào)試：將發(fā)射機(jī)置于正常調(diào)制工作模式，在頻譜儀輸入端加裝適當(dāng)衰減器，確保有用信號(hào)清晰顯示且無(wú)過(guò)載失真；
2. 2.全信道測(cè)試：設(shè)置發(fā)射機(jī)持續(xù)工作，對(duì)所有可用信道逐一進(jìn)行頻譜掃描，記錄各信道 ±500 kHz 范圍內(nèi)的平均功率值；
3. 3.結(jié)果判定：所有測(cè)試信道的功率值需在標(biāo)準(zhǔn)限值內(nèi)，無(wú)明顯頻譜超標(biāo)現(xiàn)象。

五、雜散發(fā)射測(cè)試

定義：

雜散發(fā)射指除主頻信號(hào) ±500 kHz 內(nèi)的有用信號(hào)外，發(fā)射機(jī)產(chǎn)生的帶外雜散輻射（含諧波輻射、寄生輻射等），需分別測(cè)試工作模式與待機(jī)模式下的輻射水平，兩者限值存在差異。

測(cè)試方式

1.根據(jù)設(shè)備天線類型差異化選擇測(cè)試方案：

1. 2.有外接天線端口的產(chǎn)品：優(yōu)先采用傳導(dǎo)方式測(cè)試，同時(shí)可搭配仿真天線進(jìn)行輻射方式驗(yàn)證；
2. 3.內(nèi)置天線產(chǎn)品：僅通過(guò)輻射方式完成測(cè)試，確保模擬實(shí)際使用場(chǎng)景下的雜散輻射水平。

六、傳輸時(shí)間測(cè)試

定義：

傳輸時(shí)間指發(fā)射機(jī)持續(xù)發(fā)射的周期時(shí)間，通過(guò)驗(yàn)證 “持續(xù)發(fā)射時(shí)間（A）” 與 “發(fā)射間隙（B）”，確保設(shè)備不會(huì)過(guò)度占用頻段資源。

測(cè)試步驟

1. 1.環(huán)境布置：將被測(cè)設(shè)備（EUT）按輻射測(cè)試要求放置于暗室，設(shè)置在功率最大的工作頻道；
2. 2.觸發(fā)條件：將 3 張典型標(biāo)簽置于 EUT 感應(yīng)區(qū)內(nèi)，模擬實(shí)際工作觸發(fā)場(chǎng)景；
3. 3.波形采集：將數(shù)字存儲(chǔ)示波器的感應(yīng)探頭靠近 RFID 發(fā)射機(jī)天線，捕捉發(fā)射波形；
4. 4.數(shù)據(jù)驗(yàn)證：重復(fù)多次測(cè)量，提取最大持續(xù)發(fā)射時(shí)間與最短發(fā)射間隙，與標(biāo)準(zhǔn)限值比對(duì)。

基礎(chǔ)要求

1. 1.持續(xù)發(fā)射時(shí)間 A≤4 S；
2. 2.發(fā)射間隙 B≥100 ms。

特殊場(chǎng)景要求（如傳輸裝置系統(tǒng)）

制造商需額外宣告以下合規(guī)要求：

2. 1.掃描機(jī) 20 S 內(nèi)未讀取到標(biāo)簽時(shí)，發(fā)射機(jī)自動(dòng)停止發(fā)射；
3. 2.再次發(fā)射需依賴外部觸發(fā)信號(hào)；
4. 3.重新觸發(fā)后，需遵守 100 ms 發(fā)射間隙要求，方可在原信道恢復(fù)發(fā)射。

七、接收機(jī)雜散測(cè)試

定義：

     接收機(jī)雜散指接收機(jī)工作時(shí)產(chǎn)生的諧波輻射、寄生輻射、互調(diào)產(chǎn)物及頻率變換產(chǎn)物（不含帶外輻射），其測(cè)試要求與發(fā)射雜散完全一致，測(cè)試方式亦相同。

限值標(biāo)準(zhǔn)

1. 1.1000 MHz 以下頻段：雜散輻射≤2 nW e.r.p.；
2. 2.1000 MHz 以上頻段：雜散輻射≤20 nW e.r.p.。